Analisador XRF de Alta Sensibilidade

Preço sob consulta

EA6000VX

Descrição

O equipamento Hitachi EA6000VX é um equipamento que permite fazer mapeamento de grandes áreas com capacidade de distribuição elementar. Capaz de determinar substâncias perigosas em superfícies inteiras, bem como medir pontos microscópicos numa área especificada, tarefas que não são possíveis com os  instrumentos convencionais de XRF.

Permite fazer trabalhos de análise química e medição de espessura de revestimentos.

  • Mapeamento de alta velocidade

O detetor de alta taxa de contagem (máx. 150.000 cps) e o grande estágio que faz o varrimento de no máx. A área de 250 mm × 200 mm fornece mapeamento de alta velocidade. Por exemplo, ao mapear uma área de 100 mm × 100 mm, o EA6000VX pode detectar e especificar a localização do chumbo contido no terminal de uma placa de montagem em apenas alguns minutos.

  • Detetor de alta taxa de contagem sem LN2 necessário

Equipado com o detetor de alta taxa de contagem líder mundial (uma taxa de contagem 15 vezes maior em comparação com os modelos convencionais), o EA6000VX melhora muito a eficiência da medição. Além disso, o detetor não requer LN2 , resultando numa operação mais segura e maior tempo de atividade.

  • Medições multiponto contínuas

Com um amostrador automático, até 500 pontos podem ser especificados e medidos continuamente. Assim, a medição de grandes amostras pode ser realizada com alto rendimento e mínima intervenção do utilizador.

  • Função de sobreposição de alta precisão

O EA6000VX é capaz de medições de espessura de revestimento normalmente, realizadas com a série FT, incluindo a medição desafiadora de revestimentos de filme ultrafino de Au. A análise de substâncias perigosas, como Pb no revestimento, pode ser determinada simultaneamente com a medição da espessura do revestimento. Algumas aplicações incluem a medição da concentração de substâncias perigosas em placas de solda sem chumbo, placas Sn de estruturas de chumbo e placas de níquel sem elétrodos.

  • Medições de espessura de revestimento de área microscópica

O EA6000VX é capaz de medições de espessura de revestimento, típicas da série FT, incluindo medição de espessura de revestimento de filmes ultrafinos de Au. A análise de substâncias perigosas, como o Pb no revestimento, pode ser medida simultaneamente com as medições da espessura do revestimento. Por exemplo, as possibilidades incluem a medição da composição de substâncias perigosas em chapeamento de solda sem chumbo, chapeamento Sn de estruturas de chumbo e chapeamento de Ni sem elétrodos.

  • Inspeção RoHS

Mede com eficácia as substâncias restritas a RoHS contidas em resina e metais com alta sensibilidade. Pode especificar áreas para medir, mesmo com geometrias de amostra complexas.

  • Medição de elemento leve

A opção He Purge permite a análise de elementos leves começando com Na. O sistema é purgado apenas com He durante as medições, fornecendo uma análise estável e económica.

  • Função de mapeamento transparente

Imagens de mapeamento de vários elementos, como Pb em placas, podem ser obtidas sem desmontar produtos ou mesmo saber nada sobre a estrutura interna de portáteis e telefones, por exemplo. Ao comparar as imagens de mapeamento de elementos obtidas por raios X penetrantes, uma grande quantidade de informações pode ser obtida sobre a estrutura e componentes internos

  • Análise de Contaminante

Com a sua função de mapeamento de alta velocidade, o EA6000VX é capaz de detetar e localizar pequenos contaminantes metálicos na faixa de tamanhos de dezenas de micrómetros para uma ampla área de medição (no máximo 250 mm × 200 mm). Uma quantidade pequena ou diminuta de contaminante contido em substâncias orgânicas, incluindo resina, também pode ser detetada.

  • Operabilidade tecnologicamente aprimorada – Abordagem automática e mecanismo de prevenção de colisão de amostra 

A função de aproximação automática mede a altura da amostra e ajusta automaticamente a distância entre a amostra e o detetor para que o operador possa medir facilmente as amostras com formas complicadas. No caso de operação manual, o mecanismo de prevenção de colisão de amostra evita danos à amostra.

 

Especificações

Modelo EA6000VX
Elementos Número Atómico: 12 (Mg) a 92 (U)
11(Na) a 92(U) (Utilizando Purga de Hélio)
Tipo de Amostra Sólidos, Pós, Líquidos
Fonte Raios-X Tubo Raios-X Arrefecido (W)
Voltagem: 15 kV, 30kv, 40kV, 50 kV
Corrente: 20 a 1000µA
Direção de Irradiação de Raios-X Método Top-Down
Detetor Detetor SDD Vortex® (Não necessita de azoto Líquido)
Área de Análise 0.2 mm、0.5 mm, 1.2 mm, 3mm(Alternância Eléctrica)
Observação da Amostra Câmera HD a cores CCD
Compartimento da Amostra 580(W) x 450(D) x 150 (H)mm
Área de mapeamento: 250 (X) X 200 (Y) mm
Filtros 6 Modos/Filtros com troca automática por software
Funções Qualitativas Medição espectral, deteção elementar automática e comparação espectral
Funções Quantitativas Análise por parâmetros fundamentais, calibração empírica e métodos híbridos Funções para análises de rotina Medição de espessura por parâmetros fundamentais, calibração empírica e métodos híbridos
Funções de Mapeamento Sobreposição do mapeamento químico com a imagem da amostra Funções quantitativas integradas
Funções de Segurança Bloqueio da Porta
Proteção contra Choque
Software de Autodiagnóstico

Documentação

Catálogo Analisador XRF de Alta Sensibilidade EA6000VX Hitachi

Vídeos

O que é fluorescência de raios-X (XRF)? | Hitachi