Microscópio Eletrónico de Bancada

Preço sob consulta

 TM4000Plus II

Descrição

O Microscópio Eletrónico de Bancada é uma ferramenta avançada utilizada na investigação científica e em várias áreas de estudo, como biologia, física e ciência dos materiais. Este instrumento permite uma observação detalhada e ampliada de objetos microscópicos, proporcionando uma visão única do mundo invisível.

Líder mundial na área de microscopia eletrónica de varrimento, a Hitachi High-Technologies lançou o primeiro microscópio eletrónico de bancada em Abril de 2005. A série TM (Tabletop Microscope) foi desenvolvida para obter um Microscópio Eletrónico de Bancada de fácil utilização, equipado com tecnologia de ponta e acessível a todos, sem necessidade de preparações de amostra exaustivas e/ou dispendiosas e com toda a manutenção efetuada pelo utilizador.
A série TM4000 II possui tecnologias de ponta que redefinem as capacidades de um microscópio eletrónico. Esta nova geração dos microscópios de bancada Hitachi (TM) é extremamente fácil de utilizar e oferece uma alta qualidade de imagem e otimizada, mantendo o design compacto dos bem-sucedidos produtos da série Hitachi TM.

Funcionamento do Microscópio Eletrónico de Bancada

O Microscópio Eletrónico de Bancada baseia-se no princípio de utilizar feixes de eletrões para iluminar a amostra e obter imagens de alta resolução. A amostra é colocada numa câmara de vácuo para evitar a dispersão dos eletrões. O feixe de eletrões é acelerado e focado na amostra através de uma série de lentes e bobinas eletromagnéticas.

Existem várias técnicas de imagem utilizadas no Microscópio Eletrónico de Bancada, incluindo o Microscópio Eletrónico de Transmissão (TEM) e o Microscópio Eletrónico de Varredura (SEM). O TEM permite estudar a estrutura interna das amostras, enquanto o SEM é utilizado para analisar a superfície das amostras.

Observação de amostras no Microscópio Eletrónico TM4000 II | TM4000Plus II

Uma imagem de qualidade pode ser obtida com etapas simples.

  • Automação, Observação e Análise Elemental

Aquisição rápida de mapas elementares 

Mapas elementares no microscópio eletrónico
Mapas elementares no microscópio eletrónico

Amostra: Movimento do relógio

Várias aplicações de imagem usando o status 4-under de baixo vácuo.

  • Modo de redução de carga: A carga numa amostra pode ser reduzida com um clique.
Redução de carga no microscópio eletrónico
Redução de carga no microscópio eletrónico
  • Uma variedade de materiais sob condições de baixo vácuo

O Microscópio Eletrónico TM4000Plus II pode observar não apenas amostras condutoras, mas também amostras não condutoras ou hidratadas sem preparação de amostra. Alternar entre BSE e SE pode ser executado facilmente.

Amostra no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II: Tinta
Amostra no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II: TintaAmostra no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II: Folha de planta

Amostra no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II: Tinta
Tensão de aceleração: 5 kV | Sinal de imagem: BSE | Ampliação: 2.500x

Amostra no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II: Folha de planta
Tensão de aceleração: 10 kV | Sinal de imagem: SE | Ampliação: 100x

Vantagens da tensão de aceleração de 20 kV no Microscópio Eletrónico TM4000Plus II

A alta tensão de aceleração permite uma análise EDS de alta velocidade. Dados de mapeamento EDS a 20 kV em 2 min.

Experimente a nova dimensão de SEM de Bancada, o microscópio eletrónico da Hitachi TM4000Plus II.

O Microscópio Eletrónico de Bancada é uma ferramenta poderosa que tem contribuído significativamente para o avanço da ciência e da tecnologia. Com a sua capacidade de visualizar detalhes microscópicos e analisar a composição das amostras, ele desempenha um papel crucial na descoberta e na compreensão de fenómenos microscópicos.

Ver artigo: Microscópio Eletrónico de Bancada Hitachi – Recursos e Aplicações

Especificações

ModeloHitachi TM4000 IIHitachi TM4000Plus II
Magnificação25 × – 250.000 ×25 × – 250.000 ×
Tensão de aceleração5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV5 kV, 10 kV, 15 kV, 20 kV
Detetores incluídosEletrões retrodifundidos (BSE)Eletrões retrodifundidos (BSE)
Eletrões secundarios (SE)
Catodoluminescência (CL)
Mix (BSE+SE ou BSE+CL)
STEM (opcional)
Modos de vácuoBSE: Padrão / Redução de cargaBSE: Condutor / Padrão / Redução de carga
SE/CL/Mix/STEM: Padrão / Redução de carga
Tamanho máximo da amostra80 mm (diâmetro), 50 mm (espessura)80 mm (diâmetro), 50 mm (espessura)
Fonte de eletrõesFilamento de tungsténio pré-alinhadoFilamento de tungsténio pré-alinhado
ManutençãoTotalmente efetuada pelo utilizadorTotalmente efetuada pelo utilizador

Acessórios

Suporte STEM (opcional)

Obtenha facilmente imagens transmitidas em amostras finas. O suporte STEM recentemente desenvolvido pode ser usado para realizar imagens de transmissão com o Hitachi UVD. Imagens de amostras finas ou biológicas podem ser obtidas.

Suporte STEM função
Suporte STEM função

* UVD é uma função do TM4000Plus II.

Suporte STEM
Suporte STEM

Detetor EDS – Bruker Quantax75
Detetor Bruker para análise química integrada no microscópio, com medição de elementos de Boro (B5) a Califórnio (Cf98).

  • Permite análise de mapeamento, áreas definidas, linhas e pontos.
  • Área do detetor: 30 mm 2
  • Resolução: Mn Ka ≤ 129 eV
  • Arrefecimento termoelétrico

Detetor EDS – Oxford AZtec

Detetor Oxford para análise química integrada no microscópio, com medição de elementos de Boro (B5) a Califórnio (Cf98).

  • Permite análise de mapeamento, áreas definidas, linhas e pontos.
  • Área do detetor: 30 mm 2
  • Resolução: Mn Ka ≤ 129 eV
  • Arrefecimento termoelétrico
  • LiveEDS

Portas amostras STEM

O UVD-STEM é um porta amostras STEM patenteado pela Hitachi, que utiliza um detector de sinal fotométrico para obter imagens transmitidas (STEM) de alta resolução.

Plataforma Tilt & Rotate

Com esta opção é possível observar a amostra aplicando-lhe inclinações entre -15 e +60 graus.

  • Visualização da amostra através de uma câmara de infravermelhos interna


Plataforma Motorizada XY

Com a opção plataforma motorizada, é possível controlar e movimentar a amostra apenas usando o rato do computador


Sistema de Arrefecimento – Coolstage

Este acessório permite arrefecer/aquecer a amostra permitindo a visualização de amostras com alto teor de água, sem alteração da estrutura da mesma.

Gamas de temperatura disponíveis:

  • Standard Coolstage ‐25⁰C a +50⁰C
  • Ultra Coolstage ‐50⁰C a +50⁰C


Tensile Stage

Permite fazer estudos de tensão/compressão dinâmica dentro do microscópio eletrónico.

Células de carga de 2N a 1000N podem ser usadas com resoluções de 1mN.

Opcionalmente também podem se efetuar estudos de flexão em 3 pontos, fibras e inclusive controlo de temperatura em conjunto com os estudos dinâmicos.

Aplicações

Rim de rato
Amostra Rim de rato

Tensão de aceleração: 15 kV | Sinal de imagem: STEM | Ampliação: 1.000 x

Fígado de rato
Amostra: Fígado de rato

Tensão de aceleração: 15 kV | Sinal de imagem: STEM |Ampliação: 5.000 x

Tinta de tinta
Amostra: Tinta de tinta

Tensão de aceleração: 5 kV | Sinal de imagem: BSE | Ampliação: 2.500x

Folha da planta
Amostra: Folha da planta

Tensão de aceleração: 10 kV |Sinal de imagem: SE | Ampliação: 100x

 

Documentação

Catálogo Microscópio Eletrónico de Bancada SEM Hitachi
Artigo Microscópio Eletrónico de Bancada Hitachi – Recursos e Aplicações

Vídeos

Microscópio Eletrónico de Bancada TM4000 II | TM4000Plus II | Hitachi

Microscópio Eletrónico de Bancada
Preço sob consulta