Microscópio Eletrónico de Varrimento (W-SEM)

Preço sob consulta

FlexSEM1000 II  | SU3800 | SU3900

Descrição

A Hitachi vai mudar a sua ideia da microscopia eletrónica de varrimento!

Os novos microscópios eletrónicos de varrimento pressão-variável da Hitachi proporcionam um desempenho fabuloso com uma simplicidade de operação impressionante. O microscópio eletrónico de varrimento Hitachi apresenta sistemas óticos de eletrões e de deteção de sinal, fornecendo imagens e desempenho analítico incomparável ​​numa configuração amigável ao laboratório e com custos de manutenção extremamente baixos.

O novo sistema ótico “SEM MAP” permite uma total correlação entre o sistema ótico e eletrónico. Desenhado para uma ampla gama de aplicações, incluindo amostras biológicas e materiais avançados, este microscópio certamente expandirá as suas análises, bem como as suas expectativas.

Microscópio eletrónico de varrimento FlexSEM 1000 II

O FlexSEM 1000 II VP-SEM combina recursos tecnológicos inovadores com uma interface intuitiva para oferecer adaptabilidade e flexibilidade em um pacote poderoso, automatizado e fácil de usar no laboratório. Tecnologia e circuitos de ponta fornecem desempenho de imagem incomparável, mesmo em ambientes de pressão variável, um recurso anteriormente disponível apenas em SEM de tamanho normal. Este SEM funciona com energia limpa para uma ferramenta analítica económica, sem comprometer o desempenho.

O FlexSEM mudará sua visão da microscopia eletrónica de varrimento!

  • Coluna Compacta e de Alto Desempenho

A melhor resolução da categoria num sistema termoiónico através do uso de um novo sistema ótico elétrico com um detetor de alta sensibilidade comprovada e confiável, obtendo imagens de elevada resolução.

  • Imagem de alta resolução

A ótica de eletrões incorpora uma lente objetiva de baixa aberração e um sistema de polarização de fonte exclusivo que permite o fornecimento de corrente de alta emissão.

  • Detetor de pressão ultra-variável

As novas tecnologias de baixo vácuo permitem a observação da superfície de amostras não condutoras sem pré-processamento, em todas as faixas de pressão e tensão de aceleração. Permite também analises de catodoluminescência.

Microscópio eletrónico de varrimento SU3800/SU3900

  • Desempenho e potência em uma plataforma flexível

Os microscópios eletrónicos de varrimento da Hitachi  SU3800/SU3900 oferecem operabilidade e capacidade de expansão. O operador pode automatizar muitas operações e utilizar com eficiência seu alto desempenho. O SU3900 é equipado com uma grande câmara de amostra multifuncional para acomodar a observação de grandes amostras.

  • Câmara de amostra substancialmente maior acomoda amostras grandes e pesadas

A sequência de troca da amostra evita possíveis danos ao sistema ou à amostra. Troque as amostras sem ventilar a câmara de amostras, melhorando o rendimento.
Exibição de câmara integrada na câmara. Navegue facilmente por toda a área observável

  • Evolução do mercado—Funções automáticas aprimoradas para operadores de qualquer nível de habilidade

Vários modos de operação. Funções automáticas para operadores de qualquer nível de habilidade.
Algoritmos automáticos aprimorados – 3 vezes mais rápidos (em comparação com o Hitachi Model S-3700N). Microscópio eletrónico de varrimento com Função de foco automático aprimorada.  Recursos de nossa Tecnologia de Filamento Inteligente (IFT)

Especificações

ModeloHitachi FlexSEM IIHitachi SU3800Hitachi SU3900
Magnificação16x – 800 000x7x – 800 000x7x – 800 000x
Resolução4.0 nm (20 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
5.0 nm (20 kV, BSE, Baixo vácuo)
3.0 nm (30 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
4.0 nm (30 kV, BSE, Baixo vácuo)
3.0 nm (30 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
4.0 nm (30 kV, BSE, Baixo vácuo)
FilamentoTungsténio (pré-alinhado)Tungsténio (pré-alinhado)Tungsténio (pré-alinhado)
Tensão de aceleração0,3 – 20kV0,3 – 30kV0,3 – 30kV
DetetoresEletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Eletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Eletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Modos de vácuoAlto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 100 Pa)
Alto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 650 Pa)
Alto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 650 Pa)
Plataforma5 eixos (motorizado XYR, manual T,Z)5 eixos motorizados5 eixos motorizados
Tamanho máximo amostraØ80mm, 40mm alturaØ200mm, 80mm alturaØ300mm, 130mm altura
Detetores analíticosEDSEDS, EBSD, WDSEDS, EBSD, WDS

Aplicações

Microscópio Eletrónico de Varrimento SU3800/SU3900

Materiais Metálicos

Materiais Cerâmicos

Materiais Eletrónicos

Microscópio Eletrónico de Varrimento FlexSEM1000 II

Ciência de materiais

Cimento
Cimento no Microscópio

Cimento | Tensão de aceleração: 3 kV
Ampliação: 15.000X
Sinal: SE, sem revestimento de metal

Biologia

Polén
Polén no Microscópio

Polén | Tensão de aceleração: 5 kV
Ampliação: 500X
Sinal: UVD, sem revestimento de metal

Semicondutores

Semicondutores
Semicondutores no Microscópio

Wedge Bond | Tensão de aceleração: 5 kV
Vácuo: 30 Pa
Ampliação: 1,000X a 5.000x
Sinal: BSE, sem revestimento de metal

Documentação

Catálogo Microscópio Eletrónico de Varrimento SU3800/SU3900 Hitachi
Catálogo Microscópio Eletrónico de Varrimento FlexSEM1000 II Hitachi

Vídeos

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