Microscópio Eletrónico de Varrimento (W-SEM)

Preço sob consulta

FlexSEM1000 II  | SU3800 | SU3900

Descrição

A Hitachi vai mudar a sua ideia da microscopia eletrónica!

Os novos microscópios eletrónicos de pressão-variável da Hitachi proporcionam um desempenho fabuloso com uma simplicidade de operação impressionante.

O novo sistema ótico “SEM MAP” permite uma total correlação entre o sistema ótico e eletrónico.

O microscópio eletrónico de varrimento Hitachi apresenta sistemas óticos de eletrões e de deteção de sinal, fornecendo imagens e desempenho analítico incomparável ​​numa configuração amigável ao laboratório e com custos de manutenção extremamente baixos.

Desenhado para uma ampla gama de aplicações, incluindo amostras biológicas e materiais avançados, este microscópio certamente expandirá as suas análises, bem como as suas expectativas.

Coluna Compacta e de Alto Desempenho

A melhor resolução da categoria num sistema termoiónico através do uso de um novo sistema ótico elétrico com um detetor de alta sensibilidade comprovada e confiável, obtendo imagens de elevada resolução.

Imagem de alta resolução

A ótica de eletrões incorpora uma lente objetiva de baixa aberração e um sistema de polarização de fonte exclusivo que permite o fornecimento de corrente de alta emissão.

Detetor de pressão ultra-variável

As novas tecnologias de baixo vácuo permitem a observação da superfície de amostras não condutoras sem pré-processamento, em todas as faixas de pressão e tensão de aceleração. Permite também analises de catodoluminescência.

Especificações

Modelo Hitachi FlexSEM II Hitachi SU3800 Hitachi SU3900
Magnificação 16x – 800 000x 7x – 800 000x 7x – 800 000x
Resolução 4.0 nm (20 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
5.0 nm (20 kV, BSE, Baixo vácuo)
3.0 nm (30 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
4.0 nm (30 kV, BSE, Baixo vácuo)
3.0 nm (30 kV, SE, Alto vácuo)
15.0 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
4.0 nm (30 kV, BSE, Baixo vácuo)
Filamento Tungsténio (pré-alinhado) Tungsténio (pré-alinhado) Tungsténio (pré-alinhado)
Tensão de aceleração 0,3 – 20kV 0,3 – 30kV 0,3 – 30kV
Detetores Eletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Eletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Eletrões secundários (SE)
Eletrões retrodifundidos (BSE)
UVD-CL (opcional)
STEM (opcional)
Modos de vácuo Alto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 100 Pa)
Alto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 650 Pa)
Alto vácuo
Baixo vácuo variável (6 – 650 Pa)
Plataforma 5 eixos (motorizado XYR, manual T,Z) 5 eixos motorizados 5 eixos motorizados
Tamanho máximo amostra Ø80mm, 40mm altura Ø200mm, 80mm altura Ø300mm, 130mm altura
Detetores analíticos EDS EDS, EBSD, WDS EDS, EBSD, WDS