Analisador XRF

EA1400 | EA1000AIII

Descrição

A Hitachi High-Tech Science disponibiliza uma grande variedade de equipamentos de fluorescência de raio-X para análise química com grande aplicação nas áreas regulamentares (RoHS, ELV), metais, minerais, vidro, plásticos e muitas outras.

Para clientes numa grande variedade de campos de aplicação como processo e controle de qualidade de cimento ou escórias, análise de falha de ponto anormal e inspeção de matéria estranha, bem como inspeção RoHS, o EA1400 oferece redução do tempo de medição, simplificando o gerenciamento dos resultados de medição, reduzindo erros operacionais e melhorando a eficiência

O equipamento de Fluorescência de Raios-X Hitachi EA1400 melhora o tempo de medição e o software de controlo de precisão, que era opcional para os modelos anteriores, agora é padrão, melhorando a relação custo-benefício. O EA1400 vem com o software de medição de substâncias perigosas versão 2. Em comparação com os modelos anteriores (EA1200VX [ver gráfico] ou EA1000VX), o EA1400 se destaca na deteção de oligoelementos adjacentes aos componentes principais da amostra graças à sua SDD de alta resolução e alta taxa de contagem, que permite desempenho excepcional em tarefas como controle de qualidade de metais e outros.

O Analisador de Fluorescência de Raios-X EA1000A III atinge melhor ao encurtar o tempo de medição em 1/3 em comparação com o nosso modelo anterior. O software de controlo de precisão, que era opcional para os modelos anteriores, agora é padrão, melhorando a relação custo-benefício.

O EA1000A III identifica rapidamente materiais de diferentes tipos de amostras assim que a medição é iniciada. Anteriormente, uma receita analítica tinha que ser selecionada primeiro, mas agora não há necessidade de selecionar uma receita analítica; o instrumento pode identificar automaticamente um material. O usuário pode monitorizar o status da medição através da barra de progresso no Painel de Operação, bem como os indicadores de som.

 

 

Especificações

ModeloEA1400EA1000AIII
ElementosNúmero Atómico: 11 (Na) a 92 (U) – em vácuo Número Atómico: 13 (Al) a 92 (U) – em arNúmero atómico: 13 (Al) a 92 (U)
Tipo da AmostraSólidos, Pós, LíquidosSólido, Pó, Líquido
Fonte Raios-XTubo Raios-X Arrefecido (Rh target)Tubo de raios-X (alvo Rh)
Voltagem: 15 kV, 30kv, 40kV, 50 kVVoltagem: 15 kV, 40kV, 50 kV
Corrente: 1 mACorrente: 1 mA (variável de 10 μA a 1.000 μA)
Direção de Irradiação de Raios-XMétodo Bottom-UpMétodo Bottom-Up
DetetorDetetor SDD Vortex® (Não necessita de azoto Líquido)Detector de semicondutor Si (nitrogénio líquido não necessário)
Área de AnáliseColimadores de 1 mm 2 e 3 mm 2 (Troca automática por software)1 mm, 3 mm, 5 mm (comutação automática)
Observação da AmostraCâmara a cores CCDCâmara a cores CCD
Compartimento da Amostra430(L) x 320(P) x 200 (A)mm370 (L) × 320 (P) × 120 (A) mm
239(L) x 280 (P) x 66 (A)mm (em Vácuo)
Filtros5 Modos/Filtros com troca automática por software5 Modos/Filtros com troca automática por software
Funções QualitativasMedição espectral, deteção elementar automática e comparação espectralMedição espectral, deteção elementar automática e comparação espectral
Funções QuantitativasFunções quantitativas: Bulk CAL, Bulk FP, Calibração, KLM Marker DisplayFunções quantitativas: Bulk CAL, Bulk FP, Calibração, KLM Marker Display

Documentação

Catálogo Analisador XRF EA1000AIII Hitachi

Vídeos

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