Descrição

Os equipamentos Hitachi permitem fazer medições de espessura de revestimento por fluorescência de raio-X.

O XRF Hitachi FT110A possui uma nova função de foco automático que focaliza automaticamente a amostra para adquirir imagem ótica em poucos segundos. Nenhum ajuste manual é necessário, o que resulta em maior rendimento.

Muito usados em indústria para controlo de qualidade, permitem medições precisas em poucos segundos.

• Operação fácil

Uma vez que a amostra é colocada no palco, uma imagem ótica da amostra é exibida automaticamente.

• Mede com precisão a espessura do revestimento de Au de 50 nm em 10 segundos

A geometria ideal fornece maior sensibilidade mesmo sob um micro feixe, permitindo maior precisão de medição com um colimador redondo de 0,1 ou 0,2 mm.

• Medição sem a amostra padrão

A medição pode ser feita sem amostra(s) padrão de espessura. A medição de filmes multicamadas e filmes de liga pode ser realizada facilmente.

Equipado com ótica de focalização de raios-X polcapilar e um detetor de desvio de silício, o FT160 permite alta precisão e alto rendimento na medição de espessura de revestimento de nível nano-ordem de peças eletrónicas.

• Óptica de focalização de raios-X polcapilar

Realizando medições altamente precisas por irradiação de raios-X primários de alta luminância numa área de cerca de 30 μmφ.

• Silicon Drift Detector (SDD) como sistema de deteção

O detetor de desvio de silício com alta taxa de contagem permite medições altamente precisas.

• Função de assistente de medição automática

A função de medição automática multiponto precisa ajuda a alta eficiência da medição.

• Operação fácil habilitada com interface simples e função de ajuda do software

As medições de rotina diária podem ser realizadas facilmente usando uma receita semelhante a um aplicativo registado.