Descrição
Os equipamentos Hitachi permitem fazer medições de espessura de revestimento por fluorescência de raio-X.
O XRF Hitachi FT110A possui uma nova função de foco automático que focaliza automaticamente a amostra para adquirir imagem ótica em poucos segundos. Nenhum ajuste manual é necessário, o que resulta em maior rendimento.
Muito usados em indústria para controlo de qualidade, permitem medições precisas em poucos segundos.
- Operação fácil
Uma vez que a amostra é colocada no palco, uma imagem ótica da amostra é exibida automaticamente.
- Mede com precisão a espessura do revestimento de Au de 50 nm em 10 segundos
A geometria ideal fornece maior sensibilidade mesmo sob um micro feixe, permitindo maior precisão de medição com um colimador redondo de 0,1 ou 0,2 mm.
- Medição sem a amostra padrão
A medição pode ser feita sem amostra(s) padrão de espessura. A medição de filmes multicamadas e filmes de liga pode ser realizada facilmente.
Equipado com ótica de focalização de raios-X polcapilar e um detetor de desvio de silício, o FT160 permite alta precisão e alto rendimento na medição de espessura de revestimento de nível nano-ordem de peças eletrónicas.
- Óptica de focalização de raios-X polcapilar
Realizando medições altamente precisas por irradiação de raios-X primários de alta luminância numa área de cerca de 30 μmφ.
- Silicon Drift Detector (SDD) como sistema de deteção
O detetor de desvio de silício com alta taxa de contagem permite medições altamente precisas.
- Função de assistente de medição automática
A função de medição automática multiponto precisa ajuda a alta eficiência da medição.
- Operação fácil habilitada com interface simples e função de ajuda do software
As medições de rotina diária podem ser realizadas facilmente usando uma receita semelhante a um aplicativo registado.
