Medidor de Espessura de Revestimento

Preço sob consulta

FT110A | FT160

Descrição

Os equipamentos Hitachi permitem fazer medições de espessura de revestimento por fluorescência de raio-X.

O XRF Hitachi FT110A possui uma nova função de foco automático que focaliza automaticamente a amostra para adquirir imagem ótica em poucos segundos. Nenhum ajuste manual é necessário, o que resulta em maior rendimento.

Muito usados em indústria para controlo de qualidade, permitem medições precisas em poucos segundos.

  • Operação fácil

Uma vez que a amostra é colocada no palco, uma imagem ótica da amostra é exibida automaticamente.

  • Mede com precisão a espessura do revestimento de Au de 50 nm em 10 segundos

A geometria ideal fornece maior sensibilidade mesmo sob um micro feixe, permitindo maior precisão de medição com um colimador redondo de 0,1 ou 0,2 mm.

  • Medição sem a amostra padrão

A medição pode ser feita sem amostra(s) padrão de espessura. A medição de filmes multicamadas e filmes de liga pode ser realizada facilmente.

Equipado com ótica de focalização de raios-X polcapilar e um detetor de desvio de silício, o FT160 permite alta precisão e alto rendimento na medição de espessura de revestimento de nível nano-ordem de peças eletrónicas.

  • Óptica de focalização de raios-X polcapilar

Realizando medições altamente precisas por irradiação de raios-X primários de alta luminância numa área de cerca de 30 μmφ.

  • Silicon Drift Detector (SDD) como sistema de deteção

O detetor de desvio de silício com alta taxa de contagem permite medições altamente precisas.

  • Função de assistente de medição automática

A função de medição automática multiponto precisa ajuda a alta eficiência da medição.

  • Operação fácil habilitada com interface simples e função de ajuda do software

As medições de rotina diária podem ser realizadas facilmente usando uma receita semelhante a um aplicativo registado.

Especificações

Modelo FT110 FT160
Elementos Número Atómico: 22 (Ti) a 83 (Bi) Número Atómico: 13 (Ai) a 92 (U)
Fonte Raios-X Tubo Raios-X
Voltagem: 50kV
Corrente: 1 mA
Tubo Raios-X
Voltagem: 50kV
Corrente: 1 mA
Detector Proporcional Counter SSD (Não necessita de azoto líquido)
Colimador Circular 0.1mm, 0.2 e dois outros tipos Policapilar
Observação da Amostra Câmera CCD (Com Visão Ampla) Câmera CCD (1 Milhão de pixeis)
Ajuste de Focagem Foco de Laser e auto-focus Apontador Laser e auto-focus
Tamanho máximo da amostra 500(W) x 400 (D) x 150 (H) mm
Mapeamento: 250(X) x 200 (Y) mm
400(W) x 300 (D) x 100 (H) mm
Software de Medição Filmes Finos – Parâmetros fundamentais (Máximo de 5 Camadas, 10 Elementos)
Filmes Finos – Método de Calibração
Filmes Finos – Parâmetros fundamentais (Máximo de 5 Camadas, 10 Elementos)
Filmes Finos – Método de Calibração
Funções de Segurança Porta da Câmara com Interlock
Proteção de Choque
Auto-Diagnóstico
Porta da Câmara com Interlock
Proteção de Choque
Auto-Diagnóstico
Filtro Filtro Primário (Troca automática por software) Filtro Primário (Troca automática por software)

Documentação

Catálogo Medidor de Espessura de Revestimento FT110A Hitachi

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