Microscópio Eletrónico de Varrimento (ColdFEG)

SU8600

Descrição

A última geração de ColdFEG SEM Hitachi!

O SU8600 traz uma nova era de microscópios eletrónicos de varrimento por emissão de campo frio de ultra alta resolução para a linha de longa data da Hitachi.

Esta plataforma revolucionária CFE-SEM incorpora imagens multifacetadas, automatização, maior estabilidade do sistema e fluxos de trabalho eficientes para utilizadores de todos os níveis de experiência. O Microscópio Eletrónico de Varrimento ColdFEG SU8600, oferece uma resolução abaixo de 1 nm em toda a gama de tensões de aceleração disponíveis, novos detetores e uma interface de software atualizada facilitam a obtenção de imagens de uma variedade de amostras, até às maiores ampliações.

O Microscópio SU8600 ColdFEG cobre uma vasta gama de aplicações (nanomateriais, semicondutores, polímeros, biologia) que exigem as melhores resoluções. Os detetores superiores, superiores e IMD na lente garantem um ajuste muito preciso dos eletrões secundários e retrodispersos de acordo com a sua energia e direção, os detalhes mais finos da superfície são assim revelados sem necessidade de metalizar as amostras.

Principiais Características do Microscópio Eletrónico de Varrimento ColdFEG SU8600

  • Resolução garantida: 0,6 nm a 15 kV; 0,7 nm a 1 kV
  • Emissão de frio de nova geração com regulação automática da corrente
  • Tensão de aceleração: 0,5 kV a 30 kV
  • Sistema de desaceleração configurável (energia de aterragem de 10eV)
  • Amostras até 200 mm de diâmetro
  • Introdução de amostra de câmara de ar
  • Câmara de navegação integrada
  • Detetor STEM (campo claro, campo escuro)
  • Várias portas disponíveis para EDS, EBSD, Cryogenic Platinum, etc.

Ultra-alta resolução com o Microscópio Eletrónico de Varrimento (ColdFEG) SU8600 

A fonte de emissão de campo frio de alto brilho da Hitachi fornece imagens de resolução ultra-alta, mesmo em tensões ultrabaixas.

 

Amostra de Partícula de Zeólita a x200k com o Microscópio SU8600
Amostra de Partícula de Zeólita  tipo RHO em baixo kV.
Amostra de Partícula de Zeólita com o Microscópio SU8600
Amostra de Partícula de Zeólita x200k  tipo RHO em baixo kV.

Amostra de uma Partícula de Zeólita tipo RHO em baixo kV, para revelar a estrutura de degraus finos na superfície, a imagem foi adquirida a 0,8 kV de voltagem de aterrissagem. Isso permite que a estrutura muito fina dos degraus da superfície seja claramente visível (imagem à direita).

Interface flexível

A configuração de monitor duplo suporta um espaço de trabalho flexível e altamente eficiente, consegue exibir e salvar 6 sinais simultaneamente para adquirir mais informações em menos tempo.

6 sinais de amostra no Microscópio SU8600 Hitachi
1, 2, 4 ou 6 sinais, incluindo o porta amostras da câmara ou SEM MAP, podem ser exibidos simultaneamente num único monitor.

Ao adicionar uma segunda tela, a configuração de monitor duplo suporta produtividade aprimorada, além de espaço de trabalho expandido e permite que o painel de operação seja personalizado com submenus posicionados em qualquer lugar em qualquer tela.

Especificações

ModeloHitachi SU8600 ColdFEG
Magnificação20x – 2 000 000x
Resolução0.6 nm a 15 kV
0.7 nm a 1 kV (*1)
Tensão de aceleração0,5 – 30kV
Tensão de superfície0,01 – 20kV
Detetores Standard Upper detector (com sinal Mix SE/BSE)
Lower detector
Detetores Opcionais Top Detector (TD)
In-Column Middle Detector (IMD)
Out-Column Crystal Type BSED (OCD)
Semiconductor Type BSED (PD-BSED)
Cathodoluminescence Detector (CLD)
STEM Detector
Tamanho máximo amostraMáx. φ150 mm(*3)
Controlo de PalcoAcionamento por motor de 5 eixos

Documentação

Catálogo Microscópio Eletrónico de Varrimento SU8600
Microscópio Eletrónico de Varrimento (ColdFEG)