Microscópio Eletrónico de Varrimento (ColdFEG)

Preço sob consulta

Regulus 8100 | Regulus 8200 | SU9000

Descrição

A última geração de ColdFEG SEM Hitachi!

O SU9000 é um SEM premium da HITACHI. Possui ótica eletrónica exclusiva, com a amostra posicionada dentro de uma lacuna entre as partes superior e inferior da peça polar da lente objetiva. Este conceito denominado true in-lens – combinado com a próxima geração da tecnologia de emissão de campo frio da Hitachi – garante a mais alta resolução possível do sistema (resolução SE 0,4 nm @ 30 kV, 1,2 nm @ 1 kV sem a necessidade de tecnologia de desaceleração do feixe [0,8 nm com desaceleração do feixe]) e estabilidade.

O SU9000 também é um STEM de baixo kV incrivelmente poderoso, geralmente exibindo maior contraste em recursos de amostra críticos do que os sistemas S-TEM de alta energia. Além disso, a imagem simultânea de campo claro e campo escuro anular é possível com o detetor de campo escuro configurável em 56 posições diferentes para uma seleção otimizada de contraste Z do padrão de interesse.

Detecção S-5500

A estabilidade impressionante do SU9000 permite uma especificação de resolução STEM garantida de 0,34 nm, permitindo a observação de franjas de grafite em um nanotubo de carbono.

Franjas de treliça SU9000 CNT
Amostra: nanotubo de carbono de parede múltipla (franjas de treliça) | Vacc: 30 kV | Mag. : 2.000kx

Como uma nova marca de FE-SEMs, a linha da série Regulus compreende quatro modelos: Regulus8100, Regulus8220, Regulus8230 e Regulus8240, todos os quais estendem as funções da série SU8200 com o uso de uma plataforma comum.

Com sistemas óticos de elétrões otimizados, a nova série Regulus apresenta resoluções até 0,7 nm nos modelos Regulus 8220/8230/8240 e 0,8 nm no modelo Regulus8100.

A série Regulus emprega uma nova fonte de emissão de campo frio (ColdFEG) otimizada para imagens de alta resolução em baixas tensões de aceleração. Esta fonte ColdFEG torna possível ampliar imagens de alta resolução em até 2 milhões de vezes.

As funções de suporte ao usuário também foram aprimoradas para que o desempenho avançado da série possa ser totalmente aproveitado, incluindo funções para auxiliar a operação do sistema de deteção de sinal para análise de diversos tipos de materiais, bem como funções de manutenção de dispositivos.

Imagens HR e ULV

Imagens HR e ULV
Amostra: Partícula de ouro na tensão de pouso de carbono : 10 V

Imagem UHR

Imagem UHR
Amostra: Tensão de aceleração do catalisador: 30 kV

Análise de RH e VE EDX

Análise de RH e VE EDX
Amostra: Tensão de aterrissagem da bola de estanho: 1,5 kV

Especificações

Modelo Hitachi Regulus 8100 Hitachi Regulus 8230 Hitachi SU9000
Magnificação 20x – 1 000 000x 20x – 2 000 000x 220x – 8 000 000x
Resolução 0.7 nm a 15 kV (SE)
0.8 nm a 1 kV (SE)
0.6 nm a 15 kV (SE)
0.7 nm a 1 kV (SE)
0.34 nm a 30 kV (STEM)*
0.4 nm a 30 kV (SE)
1.2 nm a 1 kV (SE)
0.8 nm a 1 kV (SE/Deceleration mode)*
Filamento ColdFEG ColdFEG ColdFEG
Tensão de aceleração 0,5 – 30kV 0,5 – 30kV 0,5 – 30kV
Tensão de superfície 0,1 – 20kV 0,01 – 20kV 0,1 – 2kV
Detetores Upper detector (com sinal Mix SE/BSE)
Lower detector
BSE detector
TE detector
Upper detector (com sinal Mix SE/BSE)
Lower detector
Top detector
BSE detector
TE detector
Secondary electron detector
Top detector*
BF/DF Duo-STEM detector*
Energy dispersive X-ray detector*
Tamanho máximo amostra Ø100mm, 17mm altura Ø200mm, 27mm altura Bulk : 5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mmH
Cross-section : 2.0 mm x 6.0 mm x 5.0 mmH
Double tilt cross-section specimen holder (L)
: 0.8 mm x 8.5 mm x 3.5 mmH
Detetores analíticos EDS EDS, EBSD EDS, EELS, Electron Diffraction

Documentação

Catálogo Microscópio Eletrónico de Varrimento SU9000

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