Analisador XRF de Bancada

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FT230

Descrição

A Hitachi High Tech, expandiu a sua gama de análise de XRF com o lançamento do FT230.

O novo FT230 foi projetado para permitir que o controlo de qualidade acompanhe a produção, simplificando e acelerando significativamente os testes de componentes e montagens. Removendo os obstáculos tradicionais da análise de XRF, o FT230 acelera a análise e reduz erros dispendiosos para ajudar os  fabricantes de componentes eletrónicos e de componentes, finalizadores de metal em geral, a atingir 100% de inspeção e atender às especificações de aperto.

Cada característica do FT230 foi projetada para reduzir o tempo necessário para concluir uma medição XRF.

Com os  instrumentos XRF tradicionais, cerca de 72% do tempo de teste é perdido na configuração, o que significa que os utilizadores gastam significativamente mais tempo na preparação para uma medição e manipulando os resultados do que o instrumento gasta analisando a peça. A experiência do utilizador do FT230 é significativamente aprimorada por um recurso inteligente de reconhecimento de peças chamado Find My Part™ que seleciona automaticamente os recursos que precisam ser medidos, as rotinas analíticas e as regras de relatório para que o utilizador gaste menos tempo usando o XRF e mais tempo a  trabalhar com os resultados. A biblioteca integrada e criada pelo utilizador  é facilmente expandida para lidar com novas peças e novas rotinas à medida que seu trabalho muda.

Destaques do produto

  • Projetado para reduzir drasticamente o tempo de análise.
  • A focagem automática reduz o tempo de carregamento da amostra.
  • O reconhecimento inteligente Find My Part™ define automaticamente a rotina de medição completa.
  • A visualização de amostra é apresentada em grande parte da tela para excelente visibilidade.
  • O diagnóstico de Auto verificação confirma a integridade e a estabilidade do instrumento.
  • Integração perfeitamente com outros softwares e facilidade na exportação de dados.
  • Intuitivo e fácil de usar mesmo para os não especialistas graças à uma nova interface de utilizador.
  • Poderoso para medir até quatro camadas de uma vez mais o substrato
  • Durável para uma longa vida útil num ambiente de produção ou laboratório desafiador.
  • Em conformidade com ASTM B568 e DIN ISO 3497
  • Ajuda a atender às especificações para ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), imersão Sn (IPC-4554) e imersão Ag (IPC-4553A)

Especificações

ModeloFT230
ElementosAl (13) – U (92)
Projeto da câmara Encaixado ou fechado
Projeto de palco XYMonitorizado ou fixo 
Curso motorizado do eixo Z  A205 mm
DetetorDetetor SDD 
Número de colimadores
 4
Laser de foco
 Incluído como padrão
Maior tamanho de  Amostra 500 x 400 x 150 milímetros
Foco automatizado Opção
Câmara de visão amplaOpção
Reconhecimento inteligente Find My PartOpção
Triagem RoHsSim
ProgramasConexão FT

Documentação

Catálogo Analisador XRF de Bancada FT230 Hitachi

Vídeos

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