Microscópio Eletrónico de Varrimento (Schottky)

Preço sob consulta

SU5000  | SU7000

Descrição

A última geração dos Schottky FE-SEM Hitachi!

O FE-SEM moderno requer não apenas alto desempenho, mas também uma infinidade de funcionalidades, incluindo observação de área ampla, análise in situ, pressão variável, imagem de alta resolução em baixas tensões de aceleração e coleta simultânea de vários sinais.

O Hitachi SU5000 mudou para sempre as operações SEM. A inovadora tecnologia assistida por computador da Hitachi, conhecida como EM Wizard, oferece um novo nível de operação e controlo SEM. Especialista ou novato, o resultado agora é o mesmo: Imagens em escala nano da mais alta qualidade ao alcance de todos!

  • A tecnologia de ajuste automático do eixo (calibração automática) restaura o microscópio às suas “melhores condições”.
  • Uma câmara de amostra robusta “extraível” acomoda amostras grandes (200 mm diâmetro, 80 mm altura).
  • Troca rápida de amostras com evacuação para observação em 3 minutos ou menos.
  • Otimização de imagens sob demanda automatizada e intuitiva em tempo real.
  • Um guia visual e interativo oferece modos SEM de ‘escolha e escolha’ para garantir as melhores condições de operação.
  • Com a ferramenta 3D MultiFinder, as amostras são facilmente inclinadas e giradas com a imagem permanecendo centralizada e em foco.
3D MultiFinder Hitachi
Com o 3D MultiFinder, a amostra pode ser girada e inclinada, e a imagem, e o campo de visão permanecem centralizados e em foco.

O Hitachi SU7000 foi projetado para  fornecer informações aprimoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica. Destaca-se na capacidade versátil de geração de imagens, com a aquisição rápida de vários sinais para atender às necessidades expansivas de SEM, desde a geração de imagens num amplo campo de visão até a visualização de estruturas subnanométricas e tudo mais.
A incorporação de sistemas óticos e de deteção de eletrões recém-projetados permite a aquisição simultânea eficiente de sinais de eletrões secundários múltiplos e de eletrões retrodifundidos.

  • Imagem multicanal –  O SU7000 é capaz de processar, exibir e salvar até 6 sinais simultaneamente para maximizar a aquisição de informações.
  • Grande variedade de técnicas de observação – Câmara da amostra e sistema de vácuo otimizados.
  • Microanálise – O canhão de eletrões é equipado com um emissor Schottky que fornece corrente de feixe de até 200 nA para acomodar várias aplicações de microanálise.
  • Combinação de vários acessórios analíticos unificam as técnicas multidisciplinares numa única plataforma.

Os equipamentos da Hitachi foram projetados para abordar esses aspetos e muito mais, fornecendo informações aprimoradas para necessidades diversificadas no campo da microscopia eletrónica.

Experimente o nano-mundo!

Especificações

Modelo Hitachi SU5000 Hitachi SU7000
Magnificação 18x – 1 000 000x 20x – 2 000 000x
Resolução 1.2 nm (30 kV, SE)
3.0 nm (1 kV , SE)
2.0 nm (1 kV , SE com deceleração)
1.6 nm (1 kV , SE com deceleração EX)
3.0 nm (15 kV , BSE, baixo vácuo)
0.8 nm (15 kV, SE, Alto vácuo)
0.9 nm (1 kV , SE, Alto vácuo)
Filamento ZrO / W Schottky ZrO / W Schottky
Tensão de aceleração 0,5 – 30kV 0,1 – 30kV
Tensão de superfície 0,1 – 20kV 0,01 – 7kV
Pressão variável 5 – 300 Pa 10 – 300 Pa
Detetores Top detector
Semiconductor type BSE detector
(PD-BSED)
Ultra Variable pressure-Detector (UVD)
TE detector
Upper detector (UD)
Middle detector (MD)
Lower detector (LD)
Semiconductor type BSE detector (PD-BSED)
Ultra Variable-Pressure Detector (UVD)
TE detector
Tamanho máximo amostra Ø200mm, 80mm altura Ø200mm, 80mm altura
Detetores analíticos EDS, EBSD, WDS EDS, EBSD, WDS