Descrição
A harmonia perfeita de resolução de imagem e desempenho analítico!
TEM / STEM de 200kV com sistema de correção de aberração desenvolvido pela Hitachi.
A resolução espacial de 0,078 nm no STEM é obtida com a alta capacidade de inclinação da amostra e detetor de grande ângulo sólido EDX, tudo numa configuração de lente objetiva única.
O HF5000 com corretor de aberração totalmente automatizado da Hitachi, SDD EDX duplo simétrico e imagem SE corrigida com Cs.
A integração dessas tecnologias acumuladas numa nova plataforma TEM / STEM de 200 kV resulta num instrumento com uma combinação ideal de imagem e análise sub-Å, bem como flexibilidade e recursos exclusivos para abordar os estudos mais avançados.
O HT7800 RuliTEM é um microscópio eletrónico de transmissão (TEM) de 120 kV com múltiplas configurações de lentes, incluindo uma lente padrão para alto contraste insuperável e uma lente HR líder de classe para alta resolução.
Esta descoberta em design inovador avançado permite fluxos de trabalho altamente eficientes e muitas aplicações especializadas. Ele representa a solução de ponta para análises modernas de TEM.
Da biomedicina aos nanomateriais
A Próxima Geração de Inovação. Atendendo e excedendo as necessidades e requisitos em muitos campos.
Alto brilho Cold FEG × Alta estabilidade × Corretor de aberração automatizado Hitachi
O novo Cold FEG de alta estabilidade usa uma versão totalmente reprojetada da tecnologia de fonte de elétrons de emissão de campo frio da Hitachi, há muito estabelecida.
A estabilidade total do sistema também foi otimizada para obter imagens sub-Å. A coluna, as fontes de alimentação e o estágio da amostra foram todos recentemente projetados para oferecer a melhor estabilidade mecânica e elétrica. Combinar esses recursos com o corretor Cs de formação de sonda totalmente automatizado da Hitachi, exigindo apenas um único clique, garante que todos os usuários possam alcançar o melhor desempenho com rapidez e facilidade.
Imagem HAADF-STEM de cristal único de Si (211) (esquerda), perfil de intensidade de imagem (direita inferior) e espectro de potência FFT (direita superior)
Detectores duais de 100 mm 2 EDX * simetricamente opostos : “Symmetrical Dual SDD * “
O EDX de alta sensibilidade e alto rendimento é obtido com SDDs duplos de 100 mm 2 simetricamente opostos.
A configuração simétrica de SDD duplo resulta numa taxa de contagem quase constante ao inclinar. Em amostras cristalinas, a aquisição EDX pode ser realizada simplesmente com o eixo da zona alinhado, em comparação com a configuração de detetor único.
O grande ângulo sólido também significa que o mapeamento EDX pode ser alcançado mesmo em espécimes sensíveis ao feixe e/ou de baixo rendimento de raios-X, incluindo mapeamento de coluna atómica. EDX de alta resolução de pixel com amplo campo de visão também é possível, fornecendo grandes conjuntos de dados de alta resolução.
Mapeamento elementar de EDX de coluna atômica GaAs (110)
Imagem SEM e STEM com correção de Cs simultânea
Imagens SEM e STEM simultâneas são oferecidas como padrão, com detector SE do tipo ET.
Isso permite a correlação de informações de superfície e internas com perceções da estrutura 3D do espécime, sem a necessidade de realizar tomografia 3D.
Além disso, a imagem SEM corrigida com Cs oferece maior resolução espacial com informações de superfície mais fiéis.
Imagens SEM / ADF- / BF-STEM do catalisador Au / CeO 2 (superior) e respetivas imagens de partículas de Au de alta resolução (inferior).
