Descrição
O modelo “clássico” para muitas aplicações com ótimo custo-benefício.
O X-50 possui tecnologia de díodo PiN, que é o detector da geração anterior antes dos detetores de desvio de silício. A tecnologia PiN processa um fator de taxas de raios-X 10x – 20x menores do que os detectores de desvio de silício e tem resolução que é cerca de 100 eV menor (largura maior). No entanto, para muitas aplicações, como classificação básica de aço inoxidável, alta temperatura e ligas de cobre, ou análise de metais básicos ou pesados em solos, minérios, pós, etc., a tecnologia PiN é satisfatória. O X-50 NÃO mede Mg, Al ou Si e, em alguns materiais, pode medir P e S no nível de 1%. Os limites de deteção serão 5x maiores (elevados) em comparação com as versões SDD do X. No entanto, o X-50 apresenta um preço atraente para os aplicativos que funcionam bem. O X-50 inclui o mesmo tubo de raio-X avançado que outros modelos X (operando a 40 kV máx.), câmara integrada, vídeo e plataforma de sistema operacional Android.
O X-50 está disponível para aplicações de ligas, ambientais, minerais/exploração, industriais e personalizáveis pelo utilizador. Os analisadores podem ser calibrados de fábrica com parâmetros fundamentais, Normalização Compton (Método EPA 6200) ou calibrações empíricas definidas pelo utilizador.
Como funciona o XRF?
O XRF atua atingindo uma amostra com um feixe de raios-X de um tubo de raios-X, fazendo com que os raios X característicos fiquem fluorescentes de cada elemento da amostra. Um detector mede a energia e a intensidade (número de raios X por segundo em uma energia específica) de cada raio X, que é transformado em uma concentração elementar usando uma técnica não padrão, como parâmetros fundamentais ou curvas de calibração geradas pelo utilizador.
A presença de um elemento é identificada pelo comprimento de onda ou energia de emissão de raios X característico do elemento. A quantidade de um elemento presente é quantificada medindo-se a intensidade da emissão de raios-X característica desse elemento.
