XRF Automatizado para Análise Rápida de Revestimentos

Eliminando os obstáculos entre o utilizador e os seus dados: o futuro da análise XRF de revestimentos com o FT230.

A Hitachi High-Tech Analytical Science, expandiu a sua gama de análise de revestimentos com o lançamento do FT230. O novo XRF FT230 foi projetado para permitir que o controlo de qualidade acompanhe a produção, simplificando e acelerando significativamente os testes de componentes e montagens.

Removendo os obstáculos tradicionais da análise de XRF, o FT230 acelera a análise e reduz erros dispendiosos para ajudar fabricantes de componentes eletrónicos e de componentes, finalizadores de metal em geral a atingir 100% de inspeção e atender às especificações de aperto.

Deixe o XRF tomar as decisões por si

Cada aspeto do FT230 foi projetado para reduzir o tempo necessário para concluir uma medição XRF. Com instrumentos XRF tradicionais, cerca de 72% do tempo de teste é perdido na configuração, o que significa que os operadores gastam significativamente mais tempo a preparar uma medição e manipulando os resultados do que o instrumento gasta a analisar a peça. A experiência do utilizador do FT230 é significativamente melhorada por um recurso inteligente de reconhecimento de peças chamado Find My Part™ que seleciona automaticamente os recursos que precisam ser medidos, as rotinas analíticas e as regras de relatório para que o operador gaste menos tempo a usar o XRF e mais tempo a trabalhar nos resultados. A biblioteca integrada e criada pelo utilizador é facilmente expandida para lidar com novas peças e novas rotinas conforme o seu trabalho muda.

Simplesmente mais inteligente

O FT230 é o primeiro produto que executa o novo software FT Connect da Hitachi, trazendo os melhores aspetos de seu software SmartLink e Estação de raio-X estabelecido e adicionando novas funcionalidades prontas para melhorar a usabilidade. FT Connect inverte completamente a interface tradicional. Enquanto no software tradicional, a maior parte da tela é ocupada por controlos – muitos dos quais são usados com pouca frequência, o FT Connect foca a interface nos aspetos mais importantes do XRF.

Manipulação de dados para a Indústria 4.0

Pode obter resultados instantaneamente onde precisar deles com os recursos flexíveis de manipulação de dados do FT Connect. Os resultados são exibidos com destaque na tela de medição principal para que os operadores possam agir rapidamente e armazenados para revisões posteriores. Os resultados podem ser exportados em folha de cálculo ou formato JSON abrangente para integração com sistemas SCADA, QMS, MES ou ERP. Da mesma forma, relatórios personalizados podem ser criados para clientes internos ou externos.

Manutenção mais fácil do equipamento

Além de uma série de funções para confirmar a estabilidade do equipamento (incluindo verificações de rotina do instrumento e ferramentas de validação de calibração), o diagnóstico integrado fornece aos utilizadores mais informações sobre a integridade do equipamento. Esses dados podem ser compartilhados diretamente com a equipa de suporte técnico da Hitachi pelo ExTOPE Connect (o serviço de armazenamento e gerenciamento de dados avançado baseado em cloud da Hitachi que permite compartilhar dados de forma instantânea e segura).

Medir além do chapeamento e revestimentos

O FT230 agrega valor além da medição da espessura e composição do revestimento e revestimento. O poderoso software e o SDD de alta resolução possibilitam a triagem de peças para conformidade com as legislações de materiais restritos, como RoHS, e análise da composição de materiais e ligas metálicas, úteis para validar substratos recebidos e confirmar a química, o que é crucial para centros de marcação que lidam com metais preciosos.

Com o FT230, o utilizador carrega uma peça na câmara, executa a rotina Find My Part™ e o instrumento cuida do resto. Tudo para encurtar e simplificar a parte mais demorada e complexa de uma medição XRF – a configuração.